专用介电性能测量的精密仪器

10年专注-只为用户打造精准可靠的介电温谱仪


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测量温度:RT~500℃


测量频率:20Hz~1MHz


测量环境:高温、不带真空气氛


测量夹具:块体



测量温度:RT~1000℃


测量频率:20Hz~30MHz


测量环境:高温、真空、气氛


测量夹具:块体、薄膜


测量温度:-160℃~450℃


测量频率:20Hz~30MHz


测量环境:高低温、真空、气氛


测量夹具:块体、薄膜

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介电温谱仪
介电温谱仪
介电温谱仪
DMS-1000高温介电介电温谱仪
DMS-500教学研究型介电温谱仪
DMS-2000高低温介电介电温谱仪
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测量温度:RT~500℃


测量频率:20Hz~1MHz


测量环境:高温、不带真空气氛


测量夹具:块体


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实验室评估电介质材料最佳测量系统
集成化程度高,系统可以与安捷伦4294A、E4980A、E4990A和WK公司软件无缝连接免费升级
符合国际ASTM、D150和
D2149-97标准,同时也符合国
标GB/T1409-2006测量方法

温度范围10K至1250℃,

控温精度±0.5℃

测量频率20Hz~30MHz

测量精度0.05%

独特的铂金电极,重复性和稳定性高
测量条件宽(高低温、真空、气氛)、 测量功能广(介电常数和损耗、阻抗谱及cole-cole图、机电耦合系数Kp)

可同时测量固体样品

和薄膜样品

测量条件宽、测量功能广、稳定可靠、拥有多项专利
仪器型号测量温度测量频率控温精度测量环境测量夹具样品个数阻抗测量
DMS-500RT~500℃20Hz~1MHz±1℃高温块体单样品内置阻抗,独立测量
DMS-1000RT~1250℃20Hz~30MHz±1℃高温、真空、气氛块体、薄膜单样品、四样品需配套阻抗分析仪使用
DMS-2000-160℃~400℃20Hz~30MHz±1℃高低温、真空、气氛块体、薄膜单样品、四样品需配套阻抗分析仪使用
佰力博 — 介电温谱仪新升级
多款测量夹具可选

       Partulab数十位工程师和用户抽丝剥茧,调整、推翻、解决,让介电温谱仪有了全新定义。

全新的介电温谱测量系统不仅可以提供单样品块体/薄膜样品测量系统平台和多样品块体/薄膜样品测量系统平台,

​还可以提供不同的测量环境(如:流动气氛、真空气氛、不用氧分压),以满足科研多样化的需求。

块体样品夹具


薄膜样品夹具


单样品夹具


四样品夹具




       评估材料介电性能通常采用平行板电容器原理,上下电极采用两个平行板是最理想情况,但实际上在制作样品和测量过程中样品与电极两个平面不可能完全接触,通常只是一个或多个点接触,如果某个接触点导电性能不好就容易导致测量不稳定。为了避免以上现象,佰力博介电温谱仪上电极采用半球状,下电极采用平面,该电极系统可以精确定位测量被测样品某一点,从而使系统的重复性和稳定性更好。

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独特的铂金电极设计
兼容多款阻抗分析仪

 Partulab介电温谱测量系统需要搭配WK6500系列阻抗分析仪使用,

也可以兼容AgilentE4294A、E4980A、E4990A阻抗分析仪和TH2828S LCR。

WK6500系列

Agilent4294A

AgilentE4980A

AgilentE4990A

TH2828S

  介电常数和介电损耗

     可以直接测量样品的介电常数和介电损坏随温度、时间、频率变化的曲线,

​可以测量阻抗谱随温度、时间、频率变化的曲线,同时得出Cole-Cole图和压电材料的机电耦合系数等。

强大精准的介电测量软件

通过阻抗测量C和D值,软件可以自动计算出介电常数和介电损耗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线,还可以直接得出介电常数实部和虚部的比值。

通过阻抗测量Z和φ 值,软件可以自动计算出复阻抗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线,还可以直接得出复阻抗Cole-Cole图。

  阻抗谱及Cole-Cole图

通过阻抗测量Z和C值,以及不同温度下的谐振频率和反谐振频率,再通过软件自动计算出机电耦合系数随温度、时间、频率变化的曲线,软件可以直接得出机械品质因数Qm。

  机电耦合系数Kp
产品品牌识别
颜色识别
外观识别
品牌识别
佰力博介电温谱仪系列的产品外观都是独一无二并且非常漂亮大气的。
佰力博介电温谱仪系列的产品上都会印上Partulab品牌标志以及产品型号。
佰力博介电温谱仪系列的产品颜色都是以蓝色为主色调。